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    想給地球降溫么?請先摸準熱源的脾性

    概述

            T3ster 是美國 Mentor Graphics 公司研發的瞬態熱測試儀,基于國際標準的靜態實驗方法 JESD51-1,測量 IGBT、MOS 管、功率二極管、三極管、LED、微機電系統等半導體電子器件的熱阻、熱容特性,用于新能源汽車、軌道交通、航空航天、電力電子等行業的功率電子無損檢測、功率循環測試等。

     

    產品介紹

            T3ster 的基本配置包括測試主機以及 PC 端的測量控制和結果分析軟件,T3ster 擴展應用配置包括TeraLED、DynTIM和Power Tester 1500A。

    T3ster

        ♦ 實現芯片結溫、結殼熱阻、內部各層熱容 - 熱阻等熱特性的快速無損測量,可用于電子元器件的校準,實現接觸熱阻測量
        ♦ 可用于芯片缺陷檢測或故障分析以及 PCB 焊點的可靠性測試
        ♦ 可為 FloTHERM 提供詳細的熱特性數據,幫助快速建立和修正仿真模型
        ♦ 高達 1μs 系統瞬態測試間隔下,擁有高靈敏度(其溫度分辨率達 0.01 攝氏度)

     

     

    TeraLED

        ♦ 擁有高精度的輻射和光學測量儀,能對 LED 熱特性包括溫度、壽命和可靠性等進行全面準確的測量
        ♦ 其自帶軟件能自動分析光通量、光效率、效能以及色差坐標,數據可直接導入 Flotherm /FloEFD 進行后續 LED 燈總成的熱分析

     

     

    DynTIM

        ♦ 熱界面材料 (TIM) 熱特性測試的設備,與 T3Ster 配合,測試材料分辨率可達 1μm
        ♦ 提供業界先進的 TIM 測試方案,其相對精度高達 ±5%
        ♦ 可實現多種可壓縮材料如導熱硅膠、散熱墊、各種相變材料以及其他粘合劑和固體試樣等的熱測試

     

     

    Power Tester 1500A

        ♦ 廣泛應用于汽車、鐵道等 IGBT 熱特性的無損檢測,以及IGBT 的加速疲勞特性測試
        ♦ 集功率循環、熱瞬態測試、熱結構函數分析于一身
        ♦ 內置多種功率加載模式,如恒定功率、恒定溫升、恒定電流
        ♦ 實時故障原因診斷,如芯片鍵合線斷開、芯片及封裝內材料分層與破損、焊膏老化等
        ♦ 全周期連續監控,可監控從起始到失效的全過程
        ♦ 使用靈活,單通道最大 500A,三個通道可獨立使用也可聯立使用

     

     

     

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